JIMA(日本檢驗儀器制造商協(xié)會)分辨率測試圖 JIMA RT RC-05B 是使用新半導體光刻技術制作的顯微圖。

日本JIMA RT RC-05B分辨率測試卡產品簡介：

JIMA(日本檢驗儀器制造商協(xié)會)分辨率測試圖 JIMA RT RC-05B 是使用新半導體光刻技術制作的顯微圖。

它用于校準和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率，并確保您的微焦點或納米分辨率 X 射線檢測系統(tǒng)的高質量結果。JIMA RT RC-05B 支持 3 微米到 50 微米之間的分辨率。這對應于 6 微米和 100 微米之間的焦點尺寸。

日本JIMA RT RC-05B分辨率測試卡應用：

修復 X 射線系統(tǒng)操縱器上的分辨率測試。選擇探測器、樣品和試管的距離，以實現高幾何放大倍率。

選擇所需的 X 射線參數。將分辨率測試放置在管的前面，使線條圖案可見。使用操縱器移動測試圖，以便看到下一個較小的線對束。

只要線條清晰可見，就繼續(xù)。焦點大小近似計算為小分辨率乘以 2。

注意：盡量減少輻射的持續(xù)時間。在手術過程中關閉 X 射線。目標前面的熱量可能會損壞測試圖。

日本JIMA RT RC-05B分辨率測試卡技術參數：

狹縫尺寸：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米

測試框架尺寸：40 x 30 x 3 mm (WxHxD)

芯片尺寸：8 x 8 x 0.2 mm (WxHxD)

吸收材料厚度：>1.0 μm 金

*有圖案尺寸均已通過 SEM 在典型點處測量。數據顯示在認證文件中。

圖案精度：[-10%, +10%]以內

工作溫度范圍：10° 至 70°C。